锥形折射是由光学各向异性引起的众所周知的现象。当聚焦光束沿其光轴通过双轴晶体传播时，就会发生这种现象：透射场演化为一个高度依赖于输入光束偏振状态的锥体。基于这一现象已经发展了多项应用；用它作为偏振测量的基础是最有趣的方法之一。
 

通过快速的物理光学建模和设计软件VirtualLab Fusion，这种效应及其应用可以得到充分的研究。看看下面的例子，我们首先演示了使用圆偏振输入光束的圆锥折射的基本原理，然后分析了在分离臂中有两个双轴晶体的偏振探测仪的设计。

双轴晶体中的锥形折射

锥形折射作为偏振测量工具的模拟

这个用例演示了锥形折射应用于偏振测量工具。