本帖最后由 luxiaogui22 于 2014-9-19 13:45 编辑

流明维持率足以代表LED灯具寿命吗?
基本上LED元件是发光二极管，本就属电子元件的一种。因此，若要谈LED元件的寿命，应该使用已经相当成熟的电子元件加速寿命试验(ALT)方法，配合取样数以及数据统计分析等，来评估LED元件寿命。以目前LM-80规范来说，以三种试验温度，配合能源之星所订定的流明维持率要求，作为LED元件的失效判定标准，其实争议是不大的，特别是在TM-21寿命推估方式发布后，更解决了封装厂在LED元件寿命上各说各话的情形，但是对使用LED元件的灯具厂来说，是具有争议与不公平的：
1. 在能源之星/LM-80规范中，要求LED元件必须通过三种不同温度的试验，在每个试验温度下，最少必须有20颗LED元件通过6000小时的试验，并以流明维持率作为试验成败的唯一判断依据。争议就在于，如果在6000小时试验过程中，有LED元件出现不亮或烧毁的情形，均可不列入流明维持率的计算，单单此举，就已经不符合LED元件寿命计算的要求了。
2. 若要采用LM-80试验数据做为寿命计算依据也是可行的，只要清楚定义那些失效模式代表着失效即可(例如：流明维持率、死灯、烧毁、色座标/电压/电流偏移等)，任何失效定义之失效模式出现时，即代表LED元件的寿命到了。除了晶粒品质外，包括封装材料的选择到打线技术等，都影响到LED元件的寿命与可靠性。因此，对于要执行LM-80或是寿命验证的LED元件来说，先通过“可靠性资格验证”绝对有其必要性。
备注：在执行LM-80/6000小时的试验过程中，为了降低部分LED失效而使试验中断的风险，通常LED元件厂会提高试验的取样数量，当试验过程中有部分LED出现死灯或早夭时，能源之星是允许故障样品不列入平均流明维持率的计算，但要求必须在LM-80报告中注明。因此，灯具厂商在阅读LED供应商所提供的LM-80报告时，除了须了解试验温度与流明维持率外，样品数量资讯就更须审慎了。
佛山香港科技大学LED-FPD工程技术研究开发中心，针对灯具的寿命，提出了“LED结温(Tj）与LED灯具寿命（h)成反比”的理念。也就是说LED结温越低，LED灯具寿命就越长。
但LED灯具如何实现无损伤检测结温呢？为此，本中心花费140万元人民币从匈牙利采购了一台国际公认最先进，精度最高的MicRed T3Ster热瞬态测试仪。以超低的检测价格，为广大灯具厂开放LED结温（Tj）测试。（本中心还免费提供各种技术培训，欢迎预约）

• 香港科技大学LED研究中心测试实验资料.rar
• 灯具结温 热成像 热阻实验方案.pdf
• LED灯具失效综合分析.pdf