pH值的测定

GB/T23595.6-2009 白光LED灯用稀土**荧光粉试验方法 第6部分：
电导率的测定

GB/T20726-2006 半导体探测器X射线能谱仪通则

GB/T6616-2009 半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法
非接触涡流法

GB/T24468-2009 半导体设备可靠性、可用性和维修性（RAM）的定义和测量规范

GB/T1555-2009 半导体单晶晶向测定方法

GB/T14264-2009 半导体材料术语

GB/T21039.1-2007 半导体器件分立器件第4-1部分：
微波二极管和晶体管微波场效应晶体管空白详细规范

GB/T13539.4-2009 低压熔断器 第4部分：
半导体设备保护用熔断体的补充要求