一、测试说明



　　第五轮发布器件数据由国家半导体器件质量监督检验中心（中电科第十三所）测试提供，芯片测试在350mA下进行，测试方法标准为SJ/T 2355-2005半导体发光器件测试方法。



　　二、数据分析

 

　　图1. 光效随显色指数（CRI）变化情况

 

　　图2. 光效随色温（CCT）变化情况

 

　　图3. 本轮测试芯片光效分布情况

　

 

　　图4. 阶段性测试数据对比。a）平均光效；b）80lm/W以上芯片比例